《中國學科發(fā)展戰(zhàn)略·轉(zhuǎn)化醫(yī)學》分為上下兩篇。上篇系統(tǒng)總結(jié)了轉(zhuǎn)化醫(yī)學的科學意義和戰(zhàn)略價值，梳理了國際和國內(nèi)轉(zhuǎn)化醫(yī)學發(fā)展態(tài)勢，在分析轉(zhuǎn)化醫(yī)學保障制度的基礎(chǔ)上，對我國轉(zhuǎn)化醫(yī)學學科發(fā)展提出了政策建議；下篇著重分析了轉(zhuǎn)化醫(yī)學重點環(huán)節(jié)與重點平臺支持領(lǐng)域、重點研究領(lǐng)域。

《中國創(chuàng)新戰(zhàn)略與政策研究2020》為中國科學院和國務院研究室聯(lián)合共建中國創(chuàng)新戰(zhàn)略和政策研究中心的研究成果。這些研究聚焦黨中央、國務院關(guān)注的重大科技問題，從全局和戰(zhàn)略的高度把握世界科技發(fā)展態(tài)勢，從科學技術(shù)影響和作用的視角研究國際國內(nèi)經(jīng)濟社會發(fā)展中的問題，形成了一批科技前沿動態(tài)、科技決策參考和科技智庫報告。本書所集結(jié)的文章

本書由中國科學院聯(lián)合國家互聯(lián)網(wǎng)信息辦公室、中華人民共和國教育部、中華人民共和國科學技術(shù)部、中國科學技術(shù)協(xié)會、中國社會科學院、國家自然科學基金委員會、中國農(nóng)業(yè)科學院共同編撰而成，旨在系統(tǒng)展示中國科研信息化的整體發(fā)展情況，有力推動中國科研信息化的發(fā)展進程。本書邀請了國內(nèi)科研信息化領(lǐng)域的權(quán)威專家、學者撰稿，圍繞科研信息化主題

《高質(zhì)量SCI論文入門必備——從選題到發(fā)表》共分為7章：第1章是對SCI論文的概述；第2～7章按照一篇論文從選題到發(fā)表的順序，闡述了一篇SCI論文的選題、實驗設計、數(shù)據(jù)處理、圖表制作、寫作、投稿的過程和注意事項，便于讀者循序漸進地閱讀和學習。 《高質(zhì)量SCI論文入門必備——從選題到發(fā)表》可供我國高等院校理工類高

《科技論文寫作之道——學報編輯談論文寫作》系統(tǒng)地闡述了科技論文的撰寫格式、寫作規(guī)范、寫作技巧、投稿期刊的選擇、論文的修改方法等論文寫作與投稿知識，同時，講解了與論文寫作相關(guān)的文獻檢索和長文檔處理技巧，并對常見的學術(shù)不端與版權(quán)等問題進行了解析。本書圖文并茂、案例詳實，兼顧了理論性與實踐性、專業(yè)性與可讀性。本書對初寫科技論

提升科學分析能力的主要途徑在于改進思維方法，作為“科學邏輯”叢書之一，本書從科學分析的實用角度來編寫，不僅詳細介紹了科學演繹的邏輯原理，而且結(jié)合豐富的科學案例來闡明如何發(fā)現(xiàn)問題、分析問題和解決問題，以此論述科學的分析方法，從而啟發(fā)科學思維并提升讀者的科學分析技能。本書共分為十章，內(nèi)容包括概念分析、邏輯定義、直言推理、三

中華文明博大精深，五千年文化燦爛輝煌，國學在社會各界受到越來越多的關(guān)注。然而，國學到底是什么？包含了哪些具體內(nèi)容？可以帶給我們什么啟發(fā)？是如何影響科學發(fā)展的？在科學技術(shù)引領(lǐng)人類社會發(fā)展的今天，這已經(jīng)成為迫切需要我們正視和思考的問題�！吨袊�人的故事》將帶領(lǐng)讀者深入歷史和典籍，試圖尋找這些問題的答案�！禕R》本書以歷史為線

本書是對當前西方德性知識論的追蹤研究，試圖全景式切入當前知識論這一熱點問題。全書從德性知識論的緣起入手，介紹當前德性知識論發(fā)展的譜系，分析爭論本質(zhì)，嘗試從歷史中尋找德性與知識的關(guān)系，從而發(fā)現(xiàn)德性知識論的理論困境，并試圖從時代和理論自身的發(fā)展角度對德性知識論的理論價值給出自己的思考和回答。

《科技信息檢索與論文寫作》主要介紹重要的科技信息源、檢索工具與軟件，期望讀者在檢索與利用科技信息時能夠做到“范圍廣、速度快、內(nèi)容精、總結(jié)準”。首先，在介紹科技文獻、科技信息源及檢索方法的基礎(chǔ)上，將科技信息源分為六大類，即科技圖書、科技論文、專利信息、標準與產(chǎn)品資料、機構(gòu)組織科技信息、在線檢索工具與數(shù)據(jù)庫，并對其內(nèi)容與檢

《TRIZ：打開創(chuàng)新之門的金鑰匙Ⅱ》包含MATRIZ（國際TRIZ協(xié)會）二級認證大綱中所要求的所有內(nèi)容，其中基于過程的功能分析、基于過程的剪裁、特性傳遞、物場模型和標準解、ARIZ（發(fā)明問題解決算法）、工程系統(tǒng)S曲線進化趨勢是MATRIZ二級認證所要求的內(nèi)容，初始缺點的識別、基于TRIZ的專利戰(zhàn)略是作者最近幾年的研究成