本書(shū)是教育部首批現(xiàn)代學(xué)徒制試點(diǎn)項(xiàng)目建設(shè)成果教材，是根據(jù)電子產(chǎn)品檢測(cè)課程標(biāo)準(zhǔn)與電子產(chǎn)品生產(chǎn)企業(yè)校企合作共同編寫(xiě)的項(xiàng)目化教材。本書(shū)以培養(yǎng)學(xué)生掌握電子測(cè)量基本知識(shí)和工程應(yīng)用能力為目標(biāo)，以電子產(chǎn)品參數(shù)測(cè)量項(xiàng)目為主線(xiàn)，將電子產(chǎn)品檢測(cè)涉及的基本參數(shù)測(cè)量方法、儀器儀表的選用、測(cè)量步驟和數(shù)據(jù)處理的理論與實(shí)踐融合在一起，通過(guò)實(shí)際電子產(chǎn)品

本書(shū)涉及電子產(chǎn)品質(zhì)量與產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、電子產(chǎn)品檢驗(yàn)，包括電子元器件的進(jìn)料檢驗(yàn)、電子產(chǎn)品生產(chǎn)過(guò)程檢驗(yàn)以及電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的型式檢驗(yàn)等。依照電子產(chǎn)品本身的產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)來(lái)編排，從產(chǎn)品開(kāi)發(fā)過(guò)程、生產(chǎn)采購(gòu)過(guò)程、產(chǎn)品生產(chǎn)過(guò)程、成品驗(yàn)收等相關(guān)檢驗(yàn)技術(shù)、檢驗(yàn)要求、檢驗(yàn)方法等內(nèi)容。全書(shū)共分為標(biāo)準(zhǔn)及標(biāo)準(zhǔn)化、電子產(chǎn)品檢驗(yàn)基礎(chǔ)、電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)過(guò)程的檢驗(yàn)、電子

產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性貫穿于設(shè)計(jì)、研制和生產(chǎn)，直至使用的全過(guò)程，它涉及對(duì)產(chǎn)品全壽命期間所處平臺(tái)環(huán)境的研究。本書(shū)敘述了當(dāng)前國(guó)內(nèi)環(huán)境試驗(yàn)的現(xiàn)狀和發(fā)展，特別是當(dāng)前模擬試驗(yàn)難以解決又迫切需要解決的問(wèn)題。本書(shū)共25章。第1章介紹了環(huán)境試驗(yàn)的由來(lái)、意義、作用和地位；國(guó)內(nèi)外開(kāi)展環(huán)境的情況；環(huán)境試驗(yàn)在產(chǎn)品設(shè)計(jì)/制造/使用中應(yīng)用；當(dāng)前在環(huán)境試