本書主要涉及在納米工藝下較為嚴重的晶體管老化效應——負偏置溫度不穩(wěn)定性和制造過程中引起的參數(shù)偏差。介紹了參數(shù)偏差效應產(chǎn)生的物理機制及對電路服役期可靠性的影響，并提出了從電路級到系統(tǒng)級的相應的分析、預測和優(yōu)化方法。