本書詳細(xì)介紹了集成電路測試的基本原理、測試系統(tǒng)和測試開發(fā)方法。首先介紹了集成電路測試的相關(guān)概念和術(shù)語，集成電路測試的最新發(fā)展趨勢；其次詳細(xì)介紹了集成電路直流參數(shù)測試和模擬集成電路測試的基本方法；再次介紹了數(shù)字集成電路的基本測試方法，然后在此基礎(chǔ)。上重點介紹了數(shù)�；旌想娐�(ADC/DAC)測試方法。此外，本書還對集成電路測試系統(tǒng)(ATE)的結(jié)構(gòu)和工作原理、測試接口板(DIB)和測試程序開發(fā)做了介紹。