書單推薦
更多
新書推薦
更多

現(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)

 現(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)

定  價(jià):49 元

        

當(dāng)前圖書已被 1 所學(xué)校薦購過!
查看明細(xì)

  • 作者:吳泉英, 孫文卿, 王軍, 馬駿, 主編
  • 出版時(shí)間:2024/8/1
  • ISBN:9787568421195
  • 出 版 社:江蘇大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TB96 
  • 頁碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:
  • 開本:16開
9
7
4
8
2
7
1
5
1
6
9
8
5

光學(xué)測試技術(shù)是利用光學(xué)方法測量光學(xué)量與非光學(xué)量的一門應(yīng)用技術(shù)的學(xué)科。它的內(nèi)容隨著科學(xué)技術(shù)和工藝水平的發(fā)展,變得越來越豐富。當(dāng)代的電子技術(shù)、激光技術(shù)、傳感器技術(shù)以及計(jì)算機(jī)技術(shù)日新月異,并且快速的應(yīng)用到光學(xué)測量領(lǐng)域中,使得現(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)早已成為一門多領(lǐng)域交叉融合的綜合學(xué)科。本書主要內(nèi)容:首先介紹了光學(xué)測量的基本知識;然后介紹了光學(xué)測量的常見方法與系統(tǒng);最后介紹了各類光學(xué)特性參數(shù)以及多種幾何量的測試方法。本書主要聚焦于生產(chǎn)和科研實(shí)踐中最常用的光學(xué)測量手段,介紹它們的原理與應(yīng)用。本書旨在向?qū)W生和研究人員介紹各種光學(xué)測量技術(shù)的理論和實(shí)踐。

 你還可能感興趣
 我要評論
您的姓名   驗(yàn)證碼: 圖片看不清?點(diǎn)擊重新得到驗(yàn)證碼
留言內(nèi)容