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現(xiàn)代測試技術

現(xiàn)代測試技術

定  價:54 元

        

  • 作者:陳潔渝等編著
  • 出版時間:2024/8/1
  • ISBN:9787562559313
  • 出 版 社:中國地質大學出版社
  • 中圖法分類:TB9 
  • 頁碼:300頁
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:19cm
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《現(xiàn)代測試技術》是筆者在多年教學經驗的基礎上并參考了國內外同類優(yōu)秀教材及文獻編著而成。內容上圍繞材料的結構、化學組成及微觀形貌的表征,設置了晶體學基礎、X射線衍射技術、透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡及電子探針、紅外光譜和拉曼光譜等幾個部分,主要介紹了材料測試的各種技術方法的基本原理、儀器結構構造及應用,涵蓋新方法、新技術和新進展,重視理論與實踐相結合。形式上設置導讀、正文、小結、思考題及練習題,便于讀者抓住重點、梳理結構、復習和鞏固,從而更好的掌握所學內容。
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