光學(xué)測(cè)試技術(shù)是利用光學(xué)方法測(cè)量光學(xué)量與非光學(xué)量的一門(mén)應(yīng)用技術(shù)的學(xué)科。它的內(nèi)容隨著科學(xué)技術(shù)和工藝水平的發(fā)展，變得越來(lái)越豐富。當(dāng)代的電子技術(shù)、激光技術(shù)、傳感器技術(shù)以及計(jì)算機(jī)技術(shù)日新月異，并且快速的應(yīng)用到光學(xué)測(cè)量領(lǐng)域中，使得現(xiàn)代光學(xué)測(cè)試技術(shù)早已成為一門(mén)多領(lǐng)域交叉融合的綜合學(xué)科。本書(shū)主要內(nèi)容：首先介紹了光學(xué)測(cè)量的基本知識(shí)；然后

本書(shū)以光學(xué)測(cè)量中光的特性為主線(xiàn),以光學(xué)測(cè)量方法與技術(shù)為中心,全面介紹了光學(xué)測(cè)量涉及的基本理論、測(cè)量原理與方法、技術(shù)特點(diǎn)與典型應(yīng)用等。全書(shū)共10章,第1章介紹光學(xué)測(cè)量的基本知識(shí),第2~5章分別介紹光干涉測(cè)量、激光準(zhǔn)直與跟蹤測(cè)量、激光全息與散斑測(cè)量、激光衍射和莫爾條紋測(cè)量;第6章介紹機(jī)器視覺(jué)測(cè)量;第7章介紹激光測(cè)速與測(cè)距;

偏振方法可獲得復(fù)雜介質(zhì)光學(xué)性質(zhì)和微觀結(jié)構(gòu)的豐富信息，具有無(wú)標(biāo)記、無(wú)損傷、跨尺度、多模態(tài)和定量等特點(diǎn)，可用于復(fù)雜樣本定量表征、細(xì)致分類(lèi)和動(dòng)態(tài)測(cè)量。本書(shū)介紹基于彈性散射的偏振光學(xué)測(cè)量方法，及其在復(fù)雜樣本測(cè)量特別是生物醫(yī)學(xué)診斷等領(lǐng)域的應(yīng)用。主要內(nèi)容包括：生物組織的偏振散射模型，偏振光在散射介質(zhì)中傳播的基本規(guī)律與模擬，光的偏振

本書(shū)針對(duì)偏振信息測(cè)量和偏振信息處理這兩個(gè)偏振成像技術(shù)的核心環(huán)節(jié)，基于作者及其研究團(tuán)隊(duì)多年的研究成果，介紹了偏振信息測(cè)量技術(shù)的原理以及最新的優(yōu)化測(cè)量方法，并介紹了偏振信息處理技術(shù)的算法原理及其在偏振圖像去霧、偏振圖像去噪等領(lǐng)域的應(yīng)用和相關(guān)的最新研究進(jìn)展。本書(shū)內(nèi)容包含理論、方法、系統(tǒng)、應(yīng)用四個(gè)層次，具體內(nèi)容包括：偏振光學(xué)、

本教材主要內(nèi)容如下。第1章主要介紹了常用的光學(xué)基本知識(shí)，包括偏振光基本特性，光的折射、反射以及干涉現(xiàn)象，同時(shí)還介紹了二色性晶體等光學(xué)元件的特性。第2章和第3章重點(diǎn)介紹了光彈性法測(cè)量應(yīng)力的基本原理，等差線(xiàn)、等傾線(xiàn)圖及其特性，以及如何利用得到的等差線(xiàn)、等傾線(xiàn)圖提取構(gòu)件應(yīng)力。根據(jù)作者多年的教學(xué)研究成果，本書(shū)中首次給出了以光強(qiáng)

本書(shū)系統(tǒng)地介紹了光場(chǎng)成像的發(fā)展與現(xiàn)狀，通過(guò)對(duì)比光場(chǎng)相機(jī)的成像特點(diǎn)闡述了不同的檢校方法；在光場(chǎng)相機(jī)的重聚焦和全聚焦方面論述并對(duì)比了不同算法的特點(diǎn)；在論述基于成像一致性的深度檢測(cè)算法基礎(chǔ)上，分析并對(duì)比了不同主流算法的效率和效果。在光場(chǎng)相機(jī)不斷發(fā)展的基礎(chǔ)上，虛擬現(xiàn)實(shí)、智能駕駛、工業(yè)檢測(cè)等應(yīng)用也在后一章給出了示例和展望。

《數(shù)字光學(xué)測(cè)量技術(shù)和應(yīng)用》內(nèi)容翔實(shí)。作為一本研究性著作，《數(shù)字光學(xué)測(cè)量技術(shù)和應(yīng)用》全面介紹了光學(xué)測(cè)量學(xué)科的基本原理、前沿進(jìn)展和工程應(yīng)用。而作為一本教科書(shū)，《數(shù)字光學(xué)測(cè)量技術(shù)和應(yīng)用》具有豐富的教學(xué)功能，如已解習(xí)題、案例研究和文本框，使讀者能夠理解底層物理學(xué)原理和功能。同時(shí)，《數(shù)字光學(xué)測(cè)量技術(shù)和應(yīng)用》具有嚴(yán)謹(jǐn)?shù)膮⒖嘉墨I(xiàn)，可

本書(shū)介紹了對(duì)光學(xué)材料、零件及系統(tǒng)的參數(shù)和性能的測(cè)量原理、方法和誤差分析及其他光學(xué)方面的測(cè)量知識(shí)、測(cè)量數(shù)據(jù)分析等。

光學(xué)計(jì)量是利用光測(cè)量各種變量和數(shù)量的科學(xué)和技術(shù)。光具有雙重特性，即粒子性和波動(dòng)性。然而，這兩個(gè)特性并不是同時(shí)表現(xiàn)出來(lái)的。書(shū)中討論的所有測(cè)量技術(shù)均基于光的波動(dòng)性，也就是說(shuō)被測(cè)變量（即待測(cè)量的量）可以改變光的一些波動(dòng)特性，例如振幅、相位、波長(zhǎng)、頻率和偏振。截至目前，利用光作為傳感器和信息載體已經(jīng)研發(fā)了許多測(cè)量技術(shù)�！豆鈱W(xué)計(jì)

掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡能夠突破光學(xué)衍射極限實(shí)現(xiàn)超分辨成像，因此成為納米光學(xué)測(cè)量中*重要的工具之一。本書(shū)首先對(duì)近場(chǎng)光學(xué)的基本概念和探測(cè)原理進(jìn)行概述，然后對(duì)近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡的分類(lèi)、工作原理、功能模塊、關(guān)鍵技術(shù)、性能指標(biāo)等進(jìn)行闡述。納米光學(xué)測(cè)量在納米光子學(xué)和等離激元光學(xué)研究中有諸多重要的應(yīng)用，包括近場(chǎng)光學(xué)超分辨成像、納米尺度光場(chǎng)振