光學(xué)測試技術(shù)是利用光學(xué)方法測量光學(xué)量與非光學(xué)量的一門應(yīng)用技術(shù)的學(xué)科。它的內(nèi)容隨著科學(xué)技術(shù)和工藝水平的發(fā)展，變得越來越豐富。當(dāng)代的電子技術(shù)、激光技術(shù)、傳感器技術(shù)以及計算機(jī)技術(shù)日新月異，并且快速的應(yīng)用到光學(xué)測量領(lǐng)域中，使得現(xiàn)代光學(xué)測試技術(shù)早已成為一門多領(lǐng)域交叉融合的綜合學(xué)科。本書主要內(nèi)容：首先介紹了光學(xué)測量的基本知識；然后

本書以光學(xué)測量中光的特性為主線,以光學(xué)測量方法與技術(shù)為中心,全面介紹了光學(xué)測量涉及的基本理論、測量原理與方法、技術(shù)特點與典型應(yīng)用等。全書共10章,第1章介紹光學(xué)測量的基本知識,第2~5章分別介紹光干涉測量、激光準(zhǔn)直與跟蹤測量、激光全息與散斑測量、激光衍射和莫爾條紋測量;第6章介紹機(jī)器視覺測量;第7章介紹激光測速與測距;

偏振方法可獲得復(fù)雜介質(zhì)光學(xué)性質(zhì)和微觀結(jié)構(gòu)的豐富信息，具有無標(biāo)記、無損傷、跨尺度、多模態(tài)和定量等特點，可用于復(fù)雜樣本定量表征、細(xì)致分類和動態(tài)測量。本書介紹基于彈性散射的偏振光學(xué)測量方法，及其在復(fù)雜樣本測量特別是生物醫(yī)學(xué)診斷等領(lǐng)域的應(yīng)用。主要內(nèi)容包括：生物組織的偏振散射模型，偏振光在散射介質(zhì)中傳播的基本規(guī)律與模擬，光的偏振

本書針對偏振信息測量和偏振信息處理這兩個偏振成像技術(shù)的核心環(huán)節(jié)，基于作者及其研究團(tuán)隊多年的研究成果，介紹了偏振信息測量技術(shù)的原理以及最新的優(yōu)化測量方法，并介紹了偏振信息處理技術(shù)的算法原理及其在偏振圖像去霧、偏振圖像去噪等領(lǐng)域的應(yīng)用和相關(guān)的最新研究進(jìn)展。本書內(nèi)容包含理論、方法、系統(tǒng)、應(yīng)用四個層次，具體內(nèi)容包括：偏振光學(xué)、

本教材主要內(nèi)容如下。第1章主要介紹了常用的光學(xué)基本知識，包括偏振光基本特性，光的折射、反射以及干涉現(xiàn)象，同時還介紹了二色性晶體等光學(xué)元件的特性。第2章和第3章重點介紹了光彈性法測量應(yīng)力的基本原理，等差線、等傾線圖及其特性，以及如何利用得到的等差線、等傾線圖提取構(gòu)件應(yīng)力。根據(jù)作者多年的教學(xué)研究成果，本書中首次給出了以光強(qiáng)

本書系統(tǒng)地介紹了光場成像的發(fā)展與現(xiàn)狀，通過對比光場相機(jī)的成像特點闡述了不同的檢校方法；在光場相機(jī)的重聚焦和全聚焦方面論述并對比了不同算法的特點；在論述基于成像一致性的深度檢測算法基礎(chǔ)上，分析并對比了不同主流算法的效率和效果。在光場相機(jī)不斷發(fā)展的基礎(chǔ)上，虛擬現(xiàn)實、智能駕駛、工業(yè)檢測等應(yīng)用也在后一章給出了示例和展望。

《數(shù)字光學(xué)測量技術(shù)和應(yīng)用》內(nèi)容翔實。作為一本研究性著作，《數(shù)字光學(xué)測量技術(shù)和應(yīng)用》全面介紹了光學(xué)測量學(xué)科的基本原理、前沿進(jìn)展和工程應(yīng)用。而作為一本教科書，《數(shù)字光學(xué)測量技術(shù)和應(yīng)用》具有豐富的教學(xué)功能，如已解習(xí)題、案例研究和文本框，使讀者能夠理解底層物理學(xué)原理和功能。同時，《數(shù)字光學(xué)測量技術(shù)和應(yīng)用》具有嚴(yán)謹(jǐn)?shù)膮⒖嘉墨I(xiàn)，可

本書介紹了對光學(xué)材料、零件及系統(tǒng)的參數(shù)和性能的測量原理、方法和誤差分析及其他光學(xué)方面的測量知識、測量數(shù)據(jù)分析等。

光學(xué)計量是利用光測量各種變量和數(shù)量的科學(xué)和技術(shù)。光具有雙重特性，即粒子性和波動性。然而，這兩個特性并不是同時表現(xiàn)出來的。書中討論的所有測量技術(shù)均基于光的波動性，也就是說被測變量（即待測量的量）可以改變光的一些波動特性，例如振幅、相位、波長、頻率和偏振。截至目前，利用光作為傳感器和信息載體已經(jīng)研發(fā)了許多測量技術(shù)�！豆鈱W(xué)計

掃描近場光學(xué)顯微鏡能夠突破光學(xué)衍射極限實現(xiàn)超分辨成像，因此成為納米光學(xué)測量中*重要的工具之一。本書首先對近場光學(xué)的基本概念和探測原理進(jìn)行概述，然后對近場光學(xué)顯微鏡的分類、工作原理、功能模塊、關(guān)鍵技術(shù)、性能指標(biāo)等進(jìn)行闡述。納米光學(xué)測量在納米光子學(xué)和等離激元光學(xué)研究中有諸多重要的應(yīng)用，包括近場光學(xué)超分辨成像、納米尺度光場振