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集成電路開發(fā)與測試(初級)

集成電路開發(fā)與測試(初級)

定  價:48 元

        

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  • 作者:杭州朗迅科技有限公司 組編 呂坤頤 夏
  • 出版時間:2021/1/1
  • ISBN:9787040553260
  • 出 版 社:高等教育出版社
  • 中圖法分類:TN40 
  • 頁碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:
  • 開本:16開
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本書是1 X職業(yè)技能等級證書配套教材,對應于集成電路開發(fā)與測試職業(yè)技能等級證書,涵蓋初級證書相關工作領域,由版職業(yè)素養(yǎng)、晶圓制程、晶圓測試、集成電路封裝、集成電路測試、集成電路應用6個項目組成,針對見習流片操作員、見習外觀檢驗員、見習測試員、見習生產(chǎn)保障技術員等崗位涉及的工作領域和任務所需的職業(yè)技能要求介紹相關理論知識和實操內(nèi)容。 本書可作為集成電路開發(fā)與測試1 X職業(yè)技能等級證書(初級)的培訓認證教材,也可作為中職學校及高等職業(yè)院校相關實踐環(huán)節(jié)教學用書及集成電路相關行業(yè)及企業(yè)員工的崗前培訓教材,還可供工程技術人員參考使用。

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