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本書主要介紹分數(shù)階傅里葉變換的發(fā)展歷程、定義及性質，基于分數(shù)階傅里葉變換的分數(shù)階算子和分數(shù)階變換，分數(shù)階傅里葉域濾波器、以及線性調頻信號的檢測和參數(shù)估計問題；分數(shù)階傅里葉域離散信號處理理論，包括分數(shù)階傅里葉變換的離散算法、分數(shù)階傅里葉域的采樣以及多抽樣率濾波器組理論；分數(shù)階傅里葉域隨機信號處理理論；分數(shù)階傅里葉變換在陣

輻射在半導體器件中電離產生電子-空穴對，長時間輻射劑量累積引起半導體器件電離輻射總劑量效應。電離輻射總劑量效應是輻射效應中最常見的一種，會導致器件性能退化、閾值電壓漂移、遷移率下降、動態(tài)和靜態(tài)電流增加，甚至功能失效，因此在輻射環(huán)境中工作的半導體器件和電子系統(tǒng)必須考慮電離輻射總劑量效應問題。本書主要介紹空間輻射環(huán)境與效應

《光電信息專業(yè)實驗教程》是基于光電信息科學技術的發(fā)展和電子信息領域對高素質應用型人才的需求，依托光電信息科學與工程專業(yè)建設需要編寫的實驗課程教材。本書由兩大部分組成：第一部分為光電信息技術原理，包括激光原理、光通信原理和光電轉換原理，共有10個專業(yè)實驗項目；第二部分為光電信息技術應用，包括光信息處理技術應用、光電探測技

逆合成孔徑雷達是對空天目標進行探測、跟蹤、成像的重要傳感器，可獲取目標的一維、二維甚至三維圖像。隨著先進成像雷達裝備的研制，雷達成像也面臨高載頻、大帶寬、目標遠距離、非合作帶來的一系列挑戰(zhàn)，亟須研究和探索與之相適應的高分辨成像算法和技術。本書重點闡述研究團隊在逆合成孔徑雷達精細化成像與多維度成像方面取得的**研究成果，

本書主要介紹近幾年來作者在系統(tǒng)簽名理論方面的研究成果，內容側重于系統(tǒng)簽名的度量特征，主要探討如何更有效地從系統(tǒng)結構出發(fā)來計算簽名，以及簽名作為可靠性度量的年齡性質等，這些結果對系統(tǒng)簽名在可靠性中獲得更深入的應用至關重要。此外，本書還介紹了文獻中已有的系統(tǒng)簽名的一些擴展，包括多狀態(tài)系統(tǒng)簽名、多類型系統(tǒng)簽名、概率簽名、耦合

后摩爾時代將硅通孔（throughsiliconvia，TSV）技術等先進集成封裝技術作為重要發(fā)展方向。本書系統(tǒng)介紹作者團隊在TSV三維集成方面的研究工作，包括緒論、TSV工藝仿真、TSV工藝、TSV三維互連電學設計、三維集成微系統(tǒng)的熱管理方法、三維集成電學測試技術、TSV轉接板技術、TSV三維集成應用、發(fā)展趨勢。為了

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《光學光刻和極紫外光刻》是一本最新的光刻技術專著，內容涉及該領域的各個重要方面。在介紹光刻技術應用上，涵蓋了全面又豐富的內容；在論述光刻技術的物理機制和數(shù)學模型時，采用了完整而不繁瑣的方法，增加了可讀性。本書在系統(tǒng)地闡述了光學光刻技術的基本內容后，還專門開辟章節(jié)，介紹了最先進的極紫外光刻技術的特點和難點，揭示了極紫外光

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