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當(dāng)前分類數(shù)量:219  點擊返回 當(dāng)前位置:首頁 > 中圖法 【TN30 一般性問題】 分類索引
  • 新型高壓低功耗氧化鎵功率器件機理與實驗研究
    • 新型高壓低功耗氧化鎵功率器件機理與實驗研究
    • 魏雨夕,羅小蓉,魏杰著/2025-4-1/ 電子科技大學(xué)出版社/定價:¥58
    • 氧化鎵(Ga2O3)具有超寬禁帶和高臨界擊穿場強,可滿足電力電子系統(tǒng)高功率(密度)、高效率和小型化發(fā)展需求,在航空航天、智能電網(wǎng)等領(lǐng)域應(yīng)用前景廣闊,但器件受限于高耐壓和低功耗的矛盾關(guān)系,且當(dāng)前對大功率器件及其熱穩(wěn)定性研究較少。為此,本論文在Ga2O3器件新結(jié)構(gòu)與熱穩(wěn)定性方面開展理論和實驗創(chuàng)新研究。本研究為氧化鎵功率器件

    • ISBN:9787577015460
  • 半導(dǎo)體存儲與系統(tǒng)
    • 半導(dǎo)體存儲與系統(tǒng)
    • (意)安德烈·雷達利(AndreaRedaelli)等著/2025-3-1/ 機械工業(yè)出版社/定價:¥129
    • 本書提供了在各個工藝及系統(tǒng)層次的半導(dǎo)體存儲器現(xiàn)狀的全面概述。在介紹了市場趨勢和存儲應(yīng)用之后,本書重點介紹了各種主流技術(shù),詳述了它們的現(xiàn)狀、挑戰(zhàn)和機遇,并特別關(guān)注了可微縮途徑。這些述及的技術(shù)包括靜態(tài)隨機存取存儲器(SRAM)、動態(tài)隨機存取存儲器(DRAM)、非易失性存儲器(NVM)和NAND閃存。本書還提及了嵌入式存儲器

    • ISBN:9787111777366
  • 半導(dǎo)體工藝原理
    • 半導(dǎo)體工藝原理
    • 悟彌今編著/2025-3-1/ 化學(xué)工業(yè)出版社/定價:¥198
    • 。本冊為《半導(dǎo)體工藝原理》,主要內(nèi)容包括:鍺和硅的化學(xué)制備與提純、半導(dǎo)體材料的生長、硅片加工、氧化工藝、薄膜沉積工藝、外延工藝、光刻工藝概述、光刻設(shè)備、光刻材料、刻蝕工藝、摻雜工藝等。

    • ISBN:9787122472366
  • 硅基氮化鎵外延材料與芯片
    • 硅基氮化鎵外延材料與芯片
    • 李國強/2025-1-1/ 科學(xué)出版社/定價:¥158
    • 本書共8章。其中,第1章介紹Si基GaN材料與芯片的研究意義,著重分析了GaN材料的性質(zhì)和Si基GaN外延材料與芯片制備的發(fā)展歷程。第2章從Si基GaN材料的外延生長機理出發(fā),依次介紹了GaN薄膜、零維GaN量子點、一維GaN納米線和二維GaN生長所面臨的技術(shù)難點及對應(yīng)的生長技術(shù)調(diào)控手段。第3~7章依次介紹了Si基Ga

    • ISBN:9787030809582
  • 半導(dǎo)體器件建模與測試實驗教程
    • 半導(dǎo)體器件建模與測試實驗教程
    • 杜江鋒,石艷玲,朱能勇編著/2025-1-1/ 電子工業(yè)出版社/定價:¥58
    • 本教程在簡要介紹MOSFET場效應(yīng)晶體管器件結(jié)構(gòu)和工作原理的基礎(chǔ)上,全面敘述了MOSFET基本電學(xué)特性和二階效應(yīng);介紹了MOSFET器件模型及建模測試結(jié)構(gòu)和方案設(shè)計;給出了MOSFETBSIM模型參數(shù)提取流程;介紹了半導(dǎo)體器件SPICE模型建模平臺EmpyreanXModel,深入介紹了XModel的基本功能和界面;介

    • ISBN:9787121493713
  • 碳化硅功率模塊設(shè)計
    • 碳化硅功率模塊設(shè)計
    • (日)阿爾貝托·卡斯特拉齊(AlbertoCastellazzi)等著/2024-12-1/ 機械工業(yè)出版社/定價:¥119
    • 本書詳細(xì)介紹了多芯片SiCMOSFET功率模塊設(shè)計所面臨的物理挑戰(zhàn)及相應(yīng)的工程解決方案,主要內(nèi)容包括多芯片功率模塊、功率模塊設(shè)計及應(yīng)用、功率模塊優(yōu)化設(shè)計、功率模塊壽命評估方法、耐高溫功率模塊、功率模塊先進評估技術(shù)、功率模塊退化監(jiān)測技術(shù)、功率模塊先進熱管理方案、功率模塊新興的封裝技術(shù)等。本書所有章節(jié)均旨在提供關(guān)于多芯片S

    • ISBN:9787111766544
  • 衍射極限附近的光刻工藝(第2版)
    • 衍射極限附近的光刻工藝(第2版)
    • 伍強、胡華勇、何偉明、岳力挽、張強、楊東旭、黃怡、李艷麗/2024-11-1/ 清華大學(xué)出版社/定價:¥368
    • "為了應(yīng)對我國在集成電路領(lǐng)域,尤其是光刻技術(shù)方面嚴(yán)重落后于發(fā)達國家的局面,破解光刻制造設(shè)備、材料和光學(xué)鄰近效應(yīng)修正軟件幾乎完全依賴進口的困境,作為從事光刻工藝研發(fā)近20年的資深研發(fā)人員,作者肩負(fù)著協(xié)助光刻設(shè)備、材料和軟件等產(chǎn)業(yè)鏈共同研發(fā)和發(fā)展的責(zé)任,將為了應(yīng)對我國在集成電路領(lǐng)域,尤其是光刻技術(shù)方面嚴(yán)重落后于發(fā)達國家的局

    • ISBN:9787302676119
  •  半導(dǎo)體工藝可靠性 [中]甘正浩 [美]黃威森 [美]劉俊杰
    • 半導(dǎo)體工藝可靠性 [中]甘正浩 [美]黃威森 [美]劉俊杰
    • [中]甘正浩 [美]黃威森 [美]劉俊杰/2024-10-1/ 機械工業(yè)出版社/定價:¥199
    • 半導(dǎo)體制造作為微電子與集成電路行業(yè)中非常重要的環(huán)節(jié),其工藝可靠性是決定芯片性能的關(guān)鍵。本書詳細(xì)描述和分析了半導(dǎo)體器件制造中的可靠性和認(rèn)定,并討論了基本的物理和理論。本書涵蓋了初始規(guī)范定義、測試結(jié)構(gòu)設(shè)計、測試結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)分析,以及工藝的最終認(rèn)定,是一本實用的、全面的指南,提供了驗證前端器件和后端互連的測試結(jié)構(gòu)設(shè)計的實際范例。

    • ISBN:9787111764946
  • 氮化鎵電子器件熱管理
    • 氮化鎵電子器件熱管理
    • (美)馬爾科·J.塔德爾(MarkoJ.Tadjer),(美)特拉維斯·J.安德森(TravisJ.Anderson)主編/2024-9-1/ 機械工業(yè)出版社/定價:¥168
    • 本書概述了業(yè)界前沿研究者所采取的技術(shù)方法,以及他們所面臨的挑戰(zhàn)和在該領(lǐng)域所取得的進展。具體內(nèi)容包括寬禁帶半導(dǎo)體器件中的熱問題、氮化鎵(GaN)及相關(guān)材料的第一性原理熱輸運建模、多晶金剛石從介觀尺度到納米尺度的熱輸運、固體界面熱輸運基本理論、氮化鎵界面熱導(dǎo)上限的預(yù)測和測量、AlGaN/GaNHEMT器件物理與電熱建模、氮

    • ISBN:9787111764557
  •  寬禁帶功率半導(dǎo)體封裝 材料、元件和可靠性 菅沼克昭
    • 寬禁帶功率半導(dǎo)體封裝 材料、元件和可靠性 菅沼克昭
    • [日]菅沼克昭(Katsuaki Suganuma)/2024-9-1/ 機械工業(yè)出版社/定價:¥119
    • 本書是國外學(xué)者們對寬禁帶半導(dǎo)體封裝技術(shù)和趨勢的及時總結(jié)。首先,對寬禁帶功率器件的發(fā)展趨勢做了總結(jié)和預(yù)演判斷,講述寬禁帶功率半導(dǎo)體的基本原理和特性,包括其獨特的物理和化學(xué)屬性,以及它們在極端環(huán)境下的潛在優(yōu)勢。接著介紹封裝材料的選擇和特性,分別就互連技術(shù)和襯底展開論述,同時,介紹了磁性材料,并對不同材料結(jié)構(gòu)的熱性能,以及冷

    • ISBN:9787111763178
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